Dansk Teknologisk Institut hjælper Topsil GlobalWafers med at demonstrere siliciumkvalitet med topografi

Læs mere om Topsils samarbejde med Dansk Teknologisk Institut i artiklen nedenfor, som omhandler, hvordan man nemt kan få lavet røntgentopografianalyse af Topsils ultrarene silicium.

https://www.dti.dk/specialists/top-quality-silicon-needs-top-quality-analysis/45177#